Development of automated measurement systems for testing integrated circuits of switching convert..
Category : Публикации
Automation of capacitance measurements for power semiconductor modules (.pdf) Automated control of die-to-case thermal resistance in integrated circuit packages of pulse voltage converters (.pdf) Расчет влияния материала анода на ВАХ диода Шоттки на основе карбида кремния 4H-..
«Методы и средства контроля аналоговых микросхем» (.pdf) Сборник трудов 1-й МНПК «САПР и моделирование в современной электронике»-2..
Потапов Л.А., Зотин В. Ф., Власов А. И. Автоматизация испытаний аналоговых микросхем. Рассмотрены возможные варианты автоматизированных испытаний аналоговых микросхем с помощью универсальных тестеров «Формула 2К» и оборудования PXI компании National Instruments, а также с помощью специализированного тестера TR9574 венгерской фирмы EMG. Дано описание разработанных авторами автоматизированных тестеров: АТИКОУ – для испытаний компараторов и операционных усилителей и АТИАУДИО – для ..
А.И.Власов, В.Ф.Зотин, Л.А.Потапов. ПРОМЫШЛЕННЫЕ ИСПЫТАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ШИМ-КОНТРОЛЛЕРОВ Рассмотрены особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Описаны конструкция и программное обеспечение разработанного тестера. Ключевые слова: ШИМ-контроллер, тестер, промышленные испытания, интегральные микросхемы, источники напряжения, измерители временных интервалов. Одним из подходов, позволяющих уменьшить потери на нагрев силовых элементов схем, является применение ключевых режимов работы транзисторов. При таких режимах силовой элемент либо открыт, тогда на ..